DEMT-8多通道數(shù)字電磁層析成像儀是安徽邁爾睿科技有限公司推出的一款成熟的可商業(yè)化的電磁層析成像系統(tǒng)。其系統(tǒng)架構(gòu)使得它可以在兩種工作模式下進(jìn)行測(cè)量，即層析成像模式和金屬探傷模式，金屬探傷檢測(cè)用于科學(xué)研究和工業(yè)檢測(cè)等多個(gè)領(lǐng)域。基于FPGA的數(shù)字核心平臺(tái)能帶給您優(yōu)秀的測(cè)量性能和最靈活的測(cè)量方式。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

基于FPGA的數(shù)字化核心測(cè)量平臺(tái)

系統(tǒng)信噪比（SNR）：60-90db

測(cè)量通道：8/16通道任意組合搭配測(cè)量

測(cè)量頻率：1KHz-200KHz（標(biāo)準(zhǔn)版本） 0.1KHz-500KHz(寬頻版本）

雙模式可選：層析成像模式/金屬探傷模式

前端信號(hào)處理模塊：可編程3階放大，放大倍數(shù)1-8倍，可擴(kuò)充層析成像模式

成像速率最高達(dá)到400幅每秒

多種反演算法可選

最大測(cè)量直徑300毫米

非接觸非侵入式測(cè)量，最高介質(zhì)溫度可達(dá)300℃

用于導(dǎo)電/導(dǎo)磁固體或液體在圓形截面上的分布成像與分析

大成像分辨率為圓形截面面積的1%(32×32像素分布)

金屬探傷模式：

信噪比大于60dB

最小可測(cè)裂縫寬度0.1mm

最大頻域0.1 Hz-500kHz

單通道最大測(cè)量速率10萬(wàn)次每秒

8通道任意組合測(cè)量，包含實(shí)部，虛部，幅值，復(fù)平面信息

金屬探傷檢測(cè)詳細(xì)內(nèi)容介紹：